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變位感測器/測長感測器 功能/規格一覽



本文

變位感測器/測長感測器選型一覽表(1.58 MB)
※ 選型一覽表的PDF檔,建議按滑鼠右鍵"另存目標"儲存檔案。

分類 變位感測器
判別
檢測方式 雷射式 雷射式 雷射式 近接式 接觸式 超音波式
特長 以10μm級測量所有工件 ・放大器內建型
・最適合用於簡易測量
・任何工件皆可穩定測量
・4種距離變化
可測量任何材質 高精度測量磁性金屬 可實現非接觸式做不到的高精度穩定測量 可測量透明物體
任何人皆可輕鬆進行最佳設定 與光電感測器同等級的
小巧尺寸
・φ6mm的細度
・10mm的長感測頭
・長距離
・廣範圍
型號 ZX2 ZX1 ZX-L-N(ZX-LD) ZX-E ZX-T E4PA-N
外觀
檢測距離
(測量範圍)
擴散反射型 正反射型
(晶圓測量)
-- 擴散反射型 正反射型 -- -- --
50±10mm、
100±35mm
48±5mm 50±10mm、
100±35mm、
300±150mm、
600±400mm
40±10mm、
100±40mm、
300±200mm
30±2mm 0~0.5mm、
0~1mm、
0~2mm、
0~4mm、
0~7mm
0~1mm、
0~4mm、
0~10mm
50~500mm、
120~2,000mm、
240~4,000mm、
400~6,000mm
解析度 最小 1.5μm 1.5μm 2μm 2μm 0.25μm 0.25μm 0.1μm --
最大 5μm 80μm 300μm 2.8μm 0.4μm
線性 最小 ±0.05%F.S. ±0.3%F.S. ±0.15%F.S. ±0.2%F.S. ±0.2%F.S. ±0.5%F.S. ±0.04%F.S. ±1%F.S.
最大 ±0.15%F.S. ±0.5%F.S. ±2%F.S. ±1.0%F.S. ±0.1%F.S.
測量週期 * 30μs 30μs 150μs 150μs 150μs 1ms 應答63~850ms
規格 CE

*測量週期記載的是最高性能。詳情請參閱各頁內容。

分類 變位感測器
高精度測量
檢測方式 白色同軸變位式 雷射式
特長 最適合希望將白色同軸原理的優點套入生產線的顧客 可邊移動邊真實測量「粗面工件」的外觀 最適合測量薄膜片、玻璃等會顫動或傾斜的「透明物體、鏡面工件」 ・高精度
・超長範圍
・可跟隨高速移動的工件
型號 ZW-5000 ZW-7000 ZW-8000 ZS
外觀
檢測距離
(測量範圍)
      擴散反射型 正反射型
7±0.3mm、
10±0.7mm、
10±0.5mm、
20±1mm、
30±2mm
7±0.3mm、
10±0.7mm、
10±0.5mm、
20±1mm、
30±2mm、
40±3mm
7±0.3mm、
10±0.7mm、
10±0.5mm、
20±1mm、
30±2mm
50±5mm、
80±15mm、
100±20mm、
130±15mm、
200±50mm、
350±135mm、
600±350mm、
1500±500mm
10±0.5mm、
15±0.75mm、
20±1mm、
25±2mm、
40±2.5mm
解析度 最小 0.004μm 0.004μm 0.002μm 0.1μm 0.001μm
最大 0.016μm 0.024μm 0.008μm 500μm 0.4μm
線性 最小 ±0.45μm ±0.45μm ±0.3μm ±0.07%F.S. ±0.05%F.S.
最大 ±2.0μm ±3.0μm ±1.3μm ±0.25%F.S. ±0.2%F.S.
測量週期 * 80μs 20μs 60μs 110μs 110μs
規格 CE
分類 變位感測器 測長感測器
形狀測量 對照型
檢測方式 雷射式 雷射式
特長 以寬雷射光束,2維感測高低差、寬度、橫截面、傾斜等形狀 ・CCD方式
・可決定玻璃位置
型號 ZG2 ZX-GT
外觀
檢測距離
(測量範圍)
擴散反射型 正反射型  
50±3mm
(寬度8mm)、
100±12mm
(寬度22mm)、
210±48mm
(寬度70mm)
22.3±0.5mm
(寬度3mm)
0~40mm
(測量寬度28mm)、
0~500mm
(測量寬度28mm)
解析度 最小 1μm(高度方向) 0.2μm(高度方向) 10μm
最大 6μm
(高度方向)
線性 最小 ±0.1%F.S. ±0.1%F.S. ±0.1%F.S.
最大
測量週期 * 16ms 16ms 0.5ms
規格 CE

*測量週期記載的是最高性能。詳情請參閱各頁內容。